ラングミュアプローブ

I–V 掃引で電子/イオン密度、電子温度、プラズマ/浮遊電位、$EEDF$ を測定。円柱/平面/球型を選択でき、RF フィルタ、冷却、3D モーションに対応。

主な特長

• $n_e$, $n_i$, $T_e$, $V_p$, $V_f$, $EEDF$ を測定
• 形状：円柱/平面/球型
• スキャン：リニア/三角/ステップ、自動スキャンと平均
• 材料 W/Mo/Ta、シース Al2O3/BN/石英、モーションプラットフォーム対応

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二本の探針を対称バイアスして $n_e$、$n_i$、$T_e$、$EEDF$ を取得。グラウンドが遠い/無い環境（大気射流、浮遊デバイス、強干渉）に適する。

主な特長

• 接地依存を低減し耐ノイズ性向上
• $n_e$, $n_i$, $T_e$ 測定、後処理で $EEDF$
• リニア/三角/ステップ掃引、自動モード対応
• 高感度電流チェーンと多様なシースを選択可

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同一サイズの三探針を同期取得し、放電サイクル内の瞬態 $n_e$、$T_e$ を捕捉。パルス放電や推進器の瞬間応答に最適。

主な特長

• 三チャネル同期で瞬態/パルス計測
• 完全な I–V 掃引依存を低減し高速サンプリング
• 外部トリガ/クロック同期に対応
• 高帯域・フィルタオプションで SNR 改善

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エミッシブはプラズマ電位/電子温度に高精度。細かな電位分布が必要な診断に適し、電位/温度マップの可視化出力も可能。

主な特長

• 高精度の $V_p$ と $T_e$
• 標準 LP より高い SNR と電位分解能
• 各種構造・材料に対応し、高温/複雑流にも設置可
• 電位/温度の可視化マップ出力

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