星焓科技

E×B 探针(Wien Filter)

通过正交电场与磁场,仅允许特定速度的粒子通过,实现离子能量与速度的精确筛选,可用于羽流能谱、IVDFIVDF 及杂质分析。

E×B 探针测量系统 (XHINS-ExB)

高精度离子速度/能量分布诊断,适用于霍尔推力器与等离子源分析

利用 E×B 正交场构成速度选择器,v = E/B 的离子可无偏转通过准直孔。扫描电场或磁场可获得完整的离子速度分布函数 (IVDFIVDF),是分析霍尔推进器、等离子源束流能量色散与杂质的关键工具。

核心特性

  • 直接测量离子速度分布 (IVDFIVDF) 与能量分布
  • 速度/能量分辨率高,可区分不同加速电位的离子成分
  • 支持多通道采集与空间扫描,适配霍尔推力器羽流诊断
  • 模块化设计,准直/法兰/运动平台可定制,易集成真空系统

关键规格

项目参数
能量范围10 eV – 5 keV(可定制)
速度分辨率典型 < 1%(取决于准直与场精度)
磁场0 – 0.5 T(永磁或电磁)
电场0 – 10 kV/m(可调偏置)
接口KF / CF / 定制法兰