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ソリューション
表面改質ソリューション
基材・膜特性に応じてイオンエネルギー、フラックス、均一性を最適化します。
典型課題
膜特性のばらつきが工程ごとに発生しやすい。
イオン能量/角度分布の定量フィードバックが不足。
スケールアップ時のパラメータ結合が複雑。
提供内容
イオン源・能量・電流密度を組み合わせた工程指紋化。
反演結果から実行可能な調整レンジを提示。
材料系切替時の実験計画を高速化。
推奨製品構成
XHINS-KF カウフマンイオン源システム
XHINS-CA カソードアークプラズマ源
減速電位アナライザ(RPA / RFEA)
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